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Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie [electronic resource]

  • Alexander, Helmut. author.
  • 1997
Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie [electronic resource]
  • 자료유형
    단행본
  • 서명/저자사항
    Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie[electronic resource] / von Helmut Alexander.
  • 개인저자
    Alexander, Helmut., author.
  • 단체저자
    SpringerLink (Online service)
  • 형태사항
    320 S. : online resource.
  • 총서명
    Teubner Studienb체cher Angewandte Physik
  • 내용주기
    1 Grundlagen -- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste -- 3 Hochaufl철sende Elektronenmikroskopie -- 4 Analytische Elektronenmikroskopie -- A Anhang -- A1 Fourier-Optik -- A1.1 Beugung am Spalt -- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten -- A1.3 Fourier-Analyse -- A1.4 Fourier-Transformation -- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion -- A1.6 Beugung und Abbildung -- A2 Vereinfachende Absch채tzung des Punktaufl철sungsverm철gens eines Elektronenmikroskops -- A3 Formale Behandlung der inkoh채renten Abbildung im ringf철rmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops -- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang -- Abbildungen.
  • 일반주제명
    Engineering.
    Engineering.
    Engineering, general.
  • 기본자료 저록
    Springer eBooks
  • 기타형태 저록
    Printed edition: 9783519032212
  • ISBN
    9783663122968
  • 언어
    독일어